閃存的異常檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110159245.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112908399B 公開（公告）日 2022-01-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN112908399B 申請(qǐng)公布日 2022-01-18
分類號(hào) G06F3/06（2006.01）I;G11C29/04（2006.01）I;G11C29/10（2006.01）I 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 劉政林;汪釗旭;陳卓;張浩明 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 置富科技（深圳）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京中強(qiáng)智尚知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 呂夢(mèng)雪
地址 518000廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田街道吉華路龍璧工業(yè)城13#2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種閃存的異常檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，涉及信息技術(shù)領(lǐng)域，主要在于能夠根據(jù)閃存對(duì)應(yīng)的可靠性等級(jí)對(duì)閃存進(jìn)行異常檢測(cè)，從而能夠避免由于閃存異常導(dǎo)致的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)錯(cuò)誤。其中方法包括：獲取閃存芯片中待檢測(cè)閃存塊對(duì)應(yīng)的屬性特征；將所述屬性特征輸入至預(yù)設(shè)可靠性預(yù)測(cè)模型進(jìn)行低頻可靠性預(yù)測(cè)，得到所述待檢測(cè)閃存塊對(duì)應(yīng)的低頻預(yù)測(cè)結(jié)果；若所述低頻預(yù)測(cè)結(jié)果不滿足預(yù)設(shè)可靠性等級(jí)要求，則將所述屬性特征輸入至所述預(yù)設(shè)可靠性等級(jí)模型進(jìn)行高頻可靠性預(yù)測(cè)，得到所述待檢測(cè)閃存塊對(duì)應(yīng)的高頻預(yù)測(cè)結(jié)果；根據(jù)所述高頻預(yù)測(cè)結(jié)果，判定所述待檢測(cè)閃存塊是否存在異常。本發(fā)明適用于閃存的異常檢測(cè)。