一種閃存的有效性預測方法、裝置及存儲介質
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110377729.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113257332A | 公開(公告)日 | 2021-08-13 |
申請公布號 | CN113257332A | 申請公布日 | 2021-08-13 |
分類號 | G11C29/56;G11C29/50 | 分類 | 信息存儲; |
發(fā)明人 | 劉政林;潘玉茜;張浩明 | 申請(專利權)人 | 置富科技(深圳)股份有限公司 |
代理機構 | 北京中強智尚知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 呂夢雪 |
地址 | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田街道吉華路龍璧工業(yè)城13#2層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種閃存的有效性預測方法、裝置及存儲介質,其中方法包括:基于預定的擦除次數(shù)間隔,利用若干檢測模型對待檢測的閃存芯片進行若干次可靠性等級檢測,獲得若干初始檢測結果;基于各所述初始檢測結果確定所述閃存芯片為有效狀態(tài)或確定所述閃存芯片為非有效狀態(tài)。本申請通過以預定擦除次數(shù)間隔執(zhí)行預測,并且通過采用多模型、多次預測的方式來獲得若干初始檢測結果,然后綜合各初始檢測結果來最終確定閃存芯片為有效狀態(tài)或者為非有效狀態(tài),提高預測的準確度,有效降低因為閃存芯片數(shù)據(jù)失效導致的數(shù)據(jù)安全隱患。 |
