一種閃存的有效性預(yù)測(cè)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110377729.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113257332A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113257332A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-13 |
| 分類(lèi)號(hào) | G11C29/56;G11C29/50 | 分類(lèi) | 信息存儲(chǔ); |
| 發(fā)明人 | 劉政林;潘玉茜;張浩明 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 置富科技（深圳）股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京中強(qiáng)智尚知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 呂夢(mèng)雪 |
| 地址 | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田街道吉華路龍璧工業(yè)城13#2層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種閃存的有效性預(yù)測(cè)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，其中方法包括：基于預(yù)定的擦除次數(shù)間隔，利用若干檢測(cè)模型對(duì)待檢測(cè)的閃存芯片進(jìn)行若干次可靠性等級(jí)檢測(cè)，獲得若干初始檢測(cè)結(jié)果；基于各所述初始檢測(cè)結(jié)果確定所述閃存芯片為有效狀態(tài)或確定所述閃存芯片為非有效狀態(tài)。本申請(qǐng)通過(guò)以預(yù)定擦除次數(shù)間隔執(zhí)行預(yù)測(cè)，并且通過(guò)采用多模型、多次預(yù)測(cè)的方式來(lái)獲得若干初始檢測(cè)結(jié)果，然后綜合各初始檢測(cè)結(jié)果來(lái)最終確定閃存芯片為有效狀態(tài)或者為非有效狀態(tài)，提高預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確度，有效降低因?yàn)殚W存芯片數(shù)據(jù)失效導(dǎo)致的數(shù)據(jù)安全隱患。 |
