基于動態(tài)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的閃存可靠性等級在線預(yù)測方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110066133.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112817524A 公開（公告）日 2021-05-18
申請公布號 CN112817524A 申請公布日 2021-05-18
分類號 G06F3/06;G11C29/50 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 齊明陽;潘玉茜;張浩明;劉政林 申請（專利權(quán)）人 置富科技（深圳）股份有限公司
代理機構(gòu) 北京中強智尚知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 黃耀威
地址 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田街道吉華路龍璧工業(yè)城13#2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于動態(tài)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的閃存可靠性等級在線預(yù)測方法、裝置、存儲介質(zhì)及計算機設(shè)備。其中方法包括：對待預(yù)測閃存芯片進行閃存操作，并在閃存操作過程中采集待預(yù)測閃存芯片的至少一種特征量；對待預(yù)測閃存芯片的至少一種特征量進行運算操作，得到待預(yù)測閃存芯片的特征運算值，依據(jù)待預(yù)測閃存芯片的特征量和待預(yù)測閃存芯片的特征運算值，建構(gòu)待預(yù)測閃存芯片的數(shù)據(jù)集合；將待預(yù)測閃存芯片的數(shù)據(jù)集合中的第一子集作為動態(tài)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸入，運行動態(tài)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，得到第一閃存可靠性等級預(yù)測模型，并通過第一閃存可靠性等級預(yù)測模型得到初始可靠性等級預(yù)測結(jié)果；根據(jù)初始可靠性等級預(yù)測結(jié)果和待預(yù)測閃存芯片的實際可靠性等級測試結(jié)果，優(yōu)化第一閃存可靠性等級預(yù)測模型的模型參數(shù)，得到第二閃存可靠性等級預(yù)測模型；將待預(yù)測閃存芯片數(shù)據(jù)集合中的第二子集輸入到第二閃存可靠性等級預(yù)測模型中，得到待預(yù)測閃存芯片的可靠性等級的預(yù)測結(jié)果。上述方法可以提高閃存芯片可靠性等級的預(yù)測準確度和靈活度。