基于灰度共生矩陣與RANSAC的工業(yè)產(chǎn)品表面缺陷視覺檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610839952.1 申請日 -
公開（公告）號 CN106373124B 公開（公告）日 2019-01-08
申請公布號 CN106373124B 申請公布日 2019-01-08
分類號 G06T7/00;G06T7/45 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 高會軍;靳萬鑫;于金泳;楊憲強;林偉陽;孫光輝;李湛 申請（專利權(quán)）人 哈爾濱工業(yè)大學(xué)資產(chǎn)投資經(jīng)營有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 哈爾濱工業(yè)大學(xué);寧波智能裝備研究院有限公司
地址 150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)西大直街92號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 基于灰度共生矩陣與RANSAC的工業(yè)產(chǎn)品表面缺陷視覺檢測方法，本發(fā)明涉及灰度共生矩陣與RANSAC的工業(yè)產(chǎn)品表面缺陷視覺檢測方法。本發(fā)明是為了解決傳統(tǒng)表面缺陷檢測方法適用范圍窄、計算復(fù)雜、檢測精度低的問題。本發(fā)明缺陷面積檢測精度可達95％，可以用于金屬元件的表面檢測，且對玻璃元件、紙張、電子元器件等表面缺陷檢測都有很強的適用性。在C++環(huán)境下，本發(fā)明算法針對640×480的工業(yè)圖像的檢測時間為200ms，較現(xiàn)有主流方法，檢測效率高，穩(wěn)定性好，適用于工業(yè)產(chǎn)品的快速檢測場合。本發(fā)明應(yīng)用于工業(yè)產(chǎn)品表面檢測領(lǐng)域。