基于k_tSL中心聚類算法的工業(yè)元件表面缺陷檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610839951.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN106373123B 公開（公告）日 2019-01-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN106373123B 申請(qǐng)公布日 2019-01-08
分類號(hào) G06T7/00;G06T7/13 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 林偉陽(yáng);李湛;梅江元;高會(huì)軍;靳萬(wàn)鑫;于金泳;楊憲強(qiáng);孫光輝 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 哈爾濱工業(yè)大學(xué)資產(chǎn)投資經(jīng)營(yíng)有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 哈爾濱工業(yè)大學(xué);寧波智能裝備研究院有限公司
地址 150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)西大直街92號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 基于k_tSL中心聚類算法的工業(yè)元件表面缺陷檢測(cè)方法，涉及基于機(jī)器視覺的工業(yè)元件表面缺陷檢測(cè)技術(shù)。目的是為了解決現(xiàn)有主流工業(yè)產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)技術(shù)在有干擾的情況下，檢測(cè)精度低、穩(wěn)定性差的問題。本發(fā)明首先對(duì)相機(jī)采集到的圖像進(jìn)行待測(cè)區(qū)域分割，得到元件的多個(gè)表面塊感興趣區(qū)域，對(duì)每一個(gè)表面塊感興趣區(qū)域的每一個(gè)像素位置進(jìn)行特征提取，對(duì)多維特征使用K?tSL中心聚類算法進(jìn)行聚類，選取覆蓋面積大于50％的連通區(qū)域作為正常區(qū)域，其余部分為缺陷部分，根據(jù)連通區(qū)域的大小判斷工業(yè)元件是否合格。上述方法穩(wěn)定性好，檢測(cè)精度高，可以應(yīng)用到工業(yè)元件的自動(dòng)生產(chǎn)和監(jiān)測(cè)中。