一種光熱效率測量裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210276408.6 申請日 -
公開（公告）號 CN114646662A 公開（公告）日 2022-06-21
申請公布號 CN114646662A 申請公布日 2022-06-21
分類號 G01N25/20（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張宇峰;劉文皓;王洋 申請（專利權(quán)）人 渤海大學(xué)
代理機構(gòu) 哈爾濱華夏松花江知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 121013遼寧省錦州市太和區(qū)科技路19號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種光熱效率測量裝置及方法，所述裝置包含太陽光模擬器、半透鏡、電流檢測儀、對比積分球、黑體、溫差制冷片、底座和測試積分球；底座上布置有待測樣品，測試積分球布置在待測樣品的上表面上，對比積分球布置在黑體上且對比積分球的測試孔與黑體的上表面貼合，所述方法包含先將待測樣品放置在底座上，使待測樣品的上表面與黑體的上表面齊平；然后將溫差制冷片安裝在測試積分球和對比積分球的探測孔之間；能量檢測儀記錄測試結(jié)果；調(diào)節(jié)黑體的溫度，觀察電流檢測儀的示數(shù)。本發(fā)明通過等效黑體的辦法，集中整合了待測樣品的上層涂料的自身反射、自身輻射以及入射光等因素對測試結(jié)果的影響，對最終的測試結(jié)果的準(zhǔn)確性有很大的提高。