用于芯片老化測試的驅(qū)動電平調(diào)節(jié)電路及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111574533.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114200289A 公開（公告）日 2022-03-18
申請公布號 CN114200289A 申請公布日 2022-03-18
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳吉鋒;談昳曄;倪衛(wèi)華;鄭朝暉 申請（專利權(quán)）人 上海季豐電子股份有限公司
代理機構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 舒淼
地址 201203上海市浦東新區(qū)祖沖之路1505弄55號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種用于芯片老化測試的驅(qū)動電平調(diào)節(jié)電路及系統(tǒng)，涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，該驅(qū)動電平調(diào)節(jié)電路包括：驅(qū)動輸入端、數(shù)字信號處理器、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器、比較器、驅(qū)動輸出端、第一場效應(yīng)管、第一電阻、第一電容和第二電容。該驅(qū)動電平調(diào)節(jié)電路可通過加載預(yù)設(shè)的邏輯輸入并通過占空比來調(diào)節(jié)輸出電壓的電平，通過調(diào)節(jié)內(nèi)置的電容及電阻實現(xiàn)對提高測試電路的兼容性，同時實現(xiàn)了利用數(shù)字信號產(chǎn)生低速模擬信號；該調(diào)節(jié)電路結(jié)構(gòu)簡單，解決了現(xiàn)有技術(shù)中芯片老化測試電路存在的兼容差的問題，并節(jié)省了測試資源。