磁體一階勻場方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200910088555.5 申請日 -
公開（公告）號 CN101604008B 公開（公告）日 2012-07-04
申請公布號 CN101604008B 申請公布日 2012-07-04
分類號 G01R33/38(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 包尚聯(lián);何群;周堃 申請（專利權(quán)）人 北京海思威科技有限公司
代理機構(gòu) 北京市卓華知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京海思威科技有限公司
地址 100871 北京市海淀區(qū)藍旗營小區(qū)3-1606
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種用于核磁共振測量(NMR)和磁共振成像(MRI)系統(tǒng)中主磁體的一階有源勻場方法，分別在空間正交的三個方向上進行勻場，用回波偏離時間作為主磁場一階不均勻性的度量，用兩個回波偏離時間的差值與相應(yīng)方向上主磁場一階不均勻梯度在一定近似條件下的線性關(guān)系確定主磁場一階不均勻梯度，把絕對測量變成相對測量，通過對回波的傅里葉變換，把對依據(jù)時間確定主磁場不均勻性的計算轉(zhuǎn)換成依據(jù)相位確定主磁場不均勻性的計算，用多點測量線性擬合后直線的斜率代替對單點數(shù)據(jù)的計算，同時本方法可以獲得渦流的定量數(shù)據(jù)，為消除渦流提供了解決辦法。本方法顯著提高了測量精度，減少了迭代次數(shù)，加快了勻場的速度，且可以用于NMR和MRI系統(tǒng)中任何磁體。