一種無極性干接點(diǎn)電路的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811511501.0 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN109406998A | 公開(公告)日 | 2019-03-01 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN109406998A | 申請(qǐng)公布日 | 2019-03-01 |
分類號(hào) | G01R31/327 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 陳學(xué)軍;董科軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 株洲田龍鐵道電氣股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 羅滿 |
地址 | 412007 湖南省株洲市天元區(qū)仙月環(huán)路899號(hào)新馬動(dòng)力創(chuàng)新園3.2期G1棟 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種無極性干接點(diǎn)電路的測(cè)試裝置,包括與無極性干接點(diǎn)電路的干接點(diǎn)端子連接的測(cè)試電路,該測(cè)試電路包括隔離電源,第一二極管,光耦合器和測(cè)試電源。隔離電源和測(cè)試電源啟動(dòng)后,當(dāng)干接點(diǎn)端子對(duì)應(yīng)的MOS管導(dǎo)通時(shí),光接收器的陰極端輸出低電平,當(dāng)MOS管關(guān)斷后,光接收器的陰極端輸出高電平。故通過檢測(cè)光接收器的陰極端的電平值,與對(duì)驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)指令進(jìn)行對(duì)比即可檢測(cè)無極性干接點(diǎn)電路的功能是否正常,而在此基礎(chǔ)上,通過第一二極管將隔離電源與干接點(diǎn)端子之間隔開,避免干接點(diǎn)端子所連接的電路器件對(duì)測(cè)試電路的影響。本發(fā)明還提供一種無極性干接點(diǎn)電路的測(cè)試方法,具有上述有益效果。 |
