衍射光學(xué)元件的周期優(yōu)化方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010636814.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111736336A | 公開(公告)日 | 2020-10-02 |
申請公布號 | CN111736336A | 申請公布日 | 2020-10-02 |
分類號 | G02B27/00(2006.01)I;G02B27/42(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 王牧云;張東亮 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州馭光光電科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京方可律師事務(wù)所 | 代理人 | 杭州馭光光電科技有限公司 |
地址 | 310018浙江省杭州市高科技企業(yè)孵化器2幢A0804 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種衍射光學(xué)元件的周期優(yōu)化方法,包括:(1)根據(jù)目標(biāo)點(diǎn)陣的各個(gè)目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)以及衍射光學(xué)元件和目標(biāo)平面之間的距離,計(jì)算各個(gè)目標(biāo)點(diǎn)的衍射角;(2)初步選定衍射光學(xué)元件的周期;(3)計(jì)算各個(gè)目標(biāo)點(diǎn)的衍射級次;(4)將衍射級次取整得到取整后的衍射級次;(5)使用取整后的衍射級次計(jì)算出實(shí)際投射點(diǎn)的坐標(biāo);(6)根據(jù)各個(gè)目標(biāo)點(diǎn)和實(shí)際投射點(diǎn)的坐標(biāo)計(jì)算周期優(yōu)化評價(jià)參數(shù);(7)調(diào)整周期,重復(fù)上述步驟(3)?(6)來計(jì)算調(diào)整周期下的周期優(yōu)化評價(jià)參數(shù);(8)根據(jù)評價(jià)參數(shù)確定衍射光學(xué)元件的最優(yōu)周期。根據(jù)本發(fā)明的法能夠在小量的計(jì)算下,使得實(shí)際分光點(diǎn)陣盡可能匹配目標(biāo)分光點(diǎn)陣,提高衍射光學(xué)元件的設(shè)計(jì)質(zhì)量和精度。?? |
