衍射光學(xué)元件的周期優(yōu)化方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010636814.X 申請日 -
公開（公告）號 CN111736336B 公開（公告）日 2021-08-03
申請公布號 CN111736336B 申請公布日 2021-08-03
分類號 G02B27/00（2006.01）I;G02B27/42（2006.01）I 分類 光學(xué);
發(fā)明人 王牧云;張東亮 申請（專利權(quán)）人 杭州馭光光電科技有限公司
代理機構(gòu) 北京方可律師事務(wù)所 代理人 郝東暉;吳艷
地址 310018浙江省杭州市高科技企業(yè)孵化器2幢A0804
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種衍射光學(xué)元件的周期優(yōu)化方法，包括：（1）根據(jù)目標點陣的各個目標點的坐標以及衍射光學(xué)元件和目標平面之間的距離，計算各個目標點的衍射角；（2）初步選定衍射光學(xué)元件的周期；（3）計算各個目標點的衍射級次；（4）將衍射級次取整得到取整后的衍射級次；（5）使用取整后的衍射級次計算出實際投射點的坐標；（6）根據(jù)各個目標點和實際投射點的坐標計算周期優(yōu)化評價參數(shù)；（7）調(diào)整周期，重復(fù)上述步驟（3）?（6）來計算調(diào)整周期下的周期優(yōu)化評價參數(shù)；（8）根據(jù)評價參數(shù)確定衍射光學(xué)元件的最優(yōu)周期。根據(jù)本發(fā)明的法能夠在小量的計算下，使得實際分光點陣盡可能匹配目標分光點陣，提高衍射光學(xué)元件的設(shè)計質(zhì)量和精度。