一種低相干動態(tài)光散射粒度檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200910303323.7 申請日 -
公開（公告）號 CN101581653A 公開（公告）日 2009-11-18
申請公布號 CN101581653A 申請公布日 2009-11-18
分類號 G01N15/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 夏輝;李宏建;楊兵初 申請（專利權(quán)）人 長沙中南升華科技發(fā)展有限公司
代理機構(gòu) 長沙市融智專利事務(wù)所 代理人 中南大學(xué);長沙中南升華科技發(fā)展有限公司
地址 410083湖南省長沙市麓山南路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種低相干動態(tài)光散射粒度檢測方法，其步驟如下：(1)用寬帶光源3(SLD)和光纖型邁克爾遜干涉儀組成低相干干涉系統(tǒng)；(2)用高靈敏探測器及聚焦入射系統(tǒng)，探測到高信噪比的散射光強度譜；利用正弦波相位調(diào)制技術(shù)，對散射光的干涉信號進行有效采集；(3)對濃厚溶液中傳播的光進行光路長選擇性檢測從而確定單散射領(lǐng)域；(4)對探測到的單散射光的光譜進行處理，利用有效的算法解析測量結(jié)果，得到高精度的粒徑及粒徑分布。本發(fā)明是一種能對濃厚溶液中的納米顆粒特性實行無接觸、無損傷的實時、快速的在線檢測的低相干動態(tài)光散射粒度檢測方法。