激光測距的方法、裝置、激光測距設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111446343.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114114296A 公開（公告）日 2022-03-01
申請公布號 CN114114296A 申請公布日 2022-03-01
分類號 G01S17/08（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 馮波;余峰;胡攀攀;謝理 申請（專利權(quán)）人 武漢萬集光電技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 梁立耀
地址 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)光谷大道77號金融后臺服務(wù)中心基地建設(shè)項目二期B5棟6層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝思す鉁y距的方法、裝置、激光測距設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)，所述方法包括：向目標物體發(fā)射激光信號后，接收目標物體的回波信號，得到原始回波信號；將原始回波信號轉(zhuǎn)換成原始數(shù)字回波信號；將預先存儲的濾光元件數(shù)字回波信號和原始數(shù)字回波信號進行反向疊加，得到目標數(shù)字回波信號；根據(jù)目標數(shù)字回波信號，計算與目標物體之間的距離；將濾波后的原始數(shù)字回波信號中的濾光元件數(shù)字回波信號抵消掉，從而有效處理目標物體的回波信號中的濾光元件回波信號，得到準確的目標物體的回波信號，降低了測距誤差，進而有效消除測距盲區(qū)。