高質(zhì)量碳化硅籽晶、碳化硅晶體、碳化硅襯底及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110484326.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113186601A | 公開(公告)日 | 2021-07-30 |
申請公布號 | CN113186601A | 申請公布日 | 2021-07-30 |
分類號 | C30B29/36;C30B23/02 | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 彭同華;王波;趙寧;婁艷芳;郭鈺;張賀;劉春俊;楊建 | 申請(專利權(quán))人 | 新疆天科合達(dá)藍(lán)光半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 豆貝貝 |
地址 | 102600 北京市大興區(qū)中關(guān)村科技園區(qū)大興生物醫(yī)藥產(chǎn)業(yè)基地天榮大街9號2幢301室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種高質(zhì)量碳化硅籽晶、碳化硅晶體、碳化硅襯底及其制備方法。本發(fā)明制備高質(zhì)量的碳化硅籽晶,并控制碳化硅粉料、石墨坩堝及保溫材料的雜質(zhì)濃度,結(jié)合一定的晶體生長工藝以及晶片加工方式,得到了高質(zhì)量的碳化硅襯底。所得碳化硅襯底具有高的結(jié)晶質(zhì)量,極低的微管數(shù)量、螺位錯密度和復(fù)合位錯密度;同時具有極低的p型雜質(zhì)濃度,表現(xiàn)出優(yōu)良的電學(xué)性能;還具有高的表面質(zhì)量。 |
