樣本晶體顆粒檢測(cè)系統(tǒng)及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810369829.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN108613953A 公開（公告）日 2018-10-02
申請(qǐng)公布號(hào) CN108613953A 申請(qǐng)公布日 2018-10-02
分類號(hào) G01N21/64 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王亞琴 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州興浩暉生物科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州杭誠(chéng)專利事務(wù)所有限公司 代理人 杭州凱基科技有限公司;杭州興浩暉生物科技有限公司
地址 311100 浙江省杭州市余杭區(qū)余杭經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)泰極路3號(hào)307C
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種樣本晶體顆粒檢測(cè)系統(tǒng)及方法，包括控制器，M個(gè)樣本晶體顆粒發(fā)生器，恒流恒壓裝置，M個(gè)盛有晶體顆粒載體油的導(dǎo)熱容器，與1個(gè)導(dǎo)熱容器底部連接的晶體顆粒采集裝置，晶體顆粒光路檢測(cè)器，位于晶體顆粒光路檢測(cè)器一側(cè)并依次排列的若干個(gè)波長(zhǎng)依次增大的激光器，設(shè)于各個(gè)激光器的出光口的激發(fā)光濾光組件，位于晶體顆粒光路檢測(cè)器另一側(cè)的接收光濾光組件，與接收光濾光組件連接的光電信號(hào)采集器，PC機(jī)和溫控裝置。本發(fā)明具有各波段光路之間不會(huì)產(chǎn)生串光現(xiàn)象，采用上壓下排式結(jié)構(gòu)，芯片內(nèi)不會(huì)殘留死體積的特點(diǎn)。