樣本晶體顆粒檢測系統(tǒng)及方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201810369829.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN108613953B | 公開(公告)日 | 2021-02-26 |
申請公布號 | CN108613953B | 申請公布日 | 2021-02-26 |
分類號 | G01N21/64(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 王亞琴 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州興浩暉生物科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 杭州宇信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 喬占雄 |
地址 | 311100浙江省杭州市余杭區(qū)倉前街道余杭塘路2636號2幢1層101室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種樣本晶體顆粒檢測系統(tǒng)及方法,包括控制器,M個樣本晶體顆粒發(fā)生器,恒流恒壓裝置,M個盛有晶體顆粒載體油的導(dǎo)熱容器,與1個導(dǎo)熱容器底部連接的晶體顆粒采集裝置,晶體顆粒光路檢測器,位于晶體顆粒光路檢測器一側(cè)并依次排列的若干個波長依次增大的激光器,設(shè)于各個激光器的出光口的激發(fā)光濾光組件,位于晶體顆粒光路檢測器另一側(cè)的接收光濾光組件,與接收光濾光組件連接的光電信號采集器,PC機和溫控裝置。本發(fā)明具有各波段光路之間不會產(chǎn)生串光現(xiàn)象,采用上壓下排式結(jié)構(gòu),芯片內(nèi)不會殘留死體積的特點。?? |
