ADC校準電路及其控制方法、存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111555305.5 申請日 -
公開（公告）號 CN114189245A 公開（公告）日 2022-03-15
申請公布號 CN114189245A 申請公布日 2022-03-15
分類號 H03M1/10（2006.01）I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 何學(xué)文;時鵬;王志林 申請（專利權(quán)）人 合肥智芯半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 趙靜
地址 230000安徽省合肥市高新區(qū)望江西路900號中安創(chuàng)谷科技園一期A2棟501/502/503/505室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種ADC校準電路及其控制方法、存儲介質(zhì)，該電路包括校準采樣子電路和補償子電路；校準采樣子電路包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器，校準采樣子電路用于通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器向補償子電路提供第一參考值、第二參考值和待校準值；補償子電路用于根據(jù)第一參考值、第二參考值對待校準值進行校準，得到相應(yīng)的數(shù)字校準值。該電路通過雙定點采樣的方式提供用于校準的第一參考值、第二參考值，對待校準值進行校準補償，有效降低了失調(diào)誤差和增益誤差對ADC轉(zhuǎn)換精度的影響，有效提高了ADC的轉(zhuǎn)換精度，且具有易于在電路設(shè)計中實現(xiàn)和集成，且適用更復(fù)雜的應(yīng)用場景的優(yōu)點。