快速診斷測試用批次校準系統(tǒng)及方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201611065486.2 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN106501510A | 公開（公告）日 | 2017-03-15 |
| 申請公布號 | CN106501510A | 申請公布日 | 2017-03-15 |
| 分類號 | G01N33/558(2006.01)I;G01N35/00(2006.01)I;G08C17/02(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 劉志鋒;錢律;謝新奇 | 申請（專利權(quán)）人 | 貝知（上海）信息科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 上海光華專利事務(wù)所 | 代理人 | 許亦琳 |
| 地址 | 201318 上海市浦東新區(qū)康新公路3399弄25號樓4層451室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種快速診斷測試用批次校準系統(tǒng)及方法。本發(fā)明的快速診斷測試用批次校準系統(tǒng)包括：試紙條批次信息獲取模塊、批次校準信息獲取模塊、測試數(shù)據(jù)收集模塊、及測試數(shù)據(jù)校準模塊。利用本發(fā)明的快速診斷測試用批次校準系統(tǒng)可在實際用戶使用時對不同批次的測試棒進行校準，以提高測試結(jié)果準確性。 |
