一種光學(xué)測(cè)量組件、角度控制裝置、測(cè)量光澤度的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811526542.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN110487752B 公開(kāi)(公告)日 2020-12-04
申請(qǐng)公布號(hào) CN110487752B 申請(qǐng)公布日 2020-12-04
分類(lèi)號(hào) G01N21/57 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 馬道遠(yuǎn) 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 深圳市融光納米科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 鐘子敏
地址 315000 浙江省寧波市奉化區(qū)經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)濱海新區(qū)濱海大道388號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種光學(xué)測(cè)量組件、角度控制裝置及測(cè)量光澤度的方法,所述光學(xué)測(cè)量組件包括:光收發(fā)器件安裝面;光發(fā)射器件和光感測(cè)器件,分別安裝于所述光收發(fā)器件安裝面;被測(cè)物貼合面,用于與被測(cè)物進(jìn)行貼合;其中,所述光收發(fā)器件安裝面與所述被測(cè)物貼合面之間具有預(yù)定夾角,所述被測(cè)物貼合面設(shè)有探測(cè)窗,所述光發(fā)射器件發(fā)出的光線能夠通過(guò)所述探測(cè)窗投射到所述被測(cè)物表面,自所述被測(cè)物表面反射的光線能夠通過(guò)所述探測(cè)窗反射到所述光感測(cè)器件。通過(guò)上述方式,本申請(qǐng)能夠降低實(shí)現(xiàn)多個(gè)角度測(cè)量的成本。