一種異常芯片的識別方法及設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811625409.7 申請日 -
公開（公告）號 CN109633415B 公開（公告）日 2021-08-10
申請公布號 CN109633415B 申請公布日 2021-08-10
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 譚偉強(qiáng);高峰;許祥濱 申請（專利權(quán)）人 泰斗微電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李艷麗
地址 510000 廣東省廣州市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)科學(xué)城彩頻路11號A401
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明適用于硬件檢測技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種異常芯片的識別方法及設(shè)備，包括：獲取待測試的系統(tǒng)級封裝SIP芯片的特征地址對照表；向所述SIP芯片輸入關(guān)于所述特征地址的讀取指令，獲取所述SIP芯片基于所述讀取指令反饋的實(shí)際輸出數(shù)據(jù)；若所述實(shí)際輸出數(shù)據(jù)與所述標(biāo)準(zhǔn)輸出數(shù)據(jù)不一致，則識別所述SIP芯片為異常芯片，輸出芯片異常報(bào)告。本發(fā)明對于焊接區(qū)域封裝于芯片內(nèi)部的SIP芯片，也能夠通過快速讀取特征地址的數(shù)據(jù)進(jìn)行異常識別，減低了異常識別的難度以及識別效率，提高了出廠的SIP芯片的良品率。