檢測設(shè)備（集成電路薄型物料缺陷檢測）

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202130722843.3 申請日 -
公開（公告）號 CN307124640S 公開（公告）日 2022-02-22
申請公布號 CN307124640S 申請公布日 2022-02-22
分類號 10-05 （13） 分類 -
發(fā)明人 劉長江;鄭軍 申請（專利權(quán)）人 聚時科技（江蘇）有限公司
代理機構(gòu) 湖北天領(lǐng)艾匹律師事務(wù)所 代理人 程明
地址 210044江蘇省南京市江北新區(qū)智達路6號智城園區(qū)4號樓5樓東側(cè)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：檢測設(shè)備（集成電路薄型物料缺陷檢測）。2.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計產(chǎn)品用于基板類、框架類集成電路薄型物料的自動上下料缺陷檢測。3.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：在于形狀。4.最能表明設(shè)計要點的圖片或照片：設(shè)計1立體圖。5.指定設(shè)計1為基本設(shè)計。