檢測(cè)設(shè)備（集成電路板表面缺陷檢測(cè)）
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202130719943.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN307124639S | 公開（公告）日 | 2022-02-22 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN307124639S | 申請(qǐng)公布日 | 2022-02-22 |
| 分類號(hào) | 10-05 （13） | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 劉長(zhǎng)江;鄭軍 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 聚時(shí)科技（江蘇）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 湖北天領(lǐng)艾匹律師事務(wù)所 | 代理人 | 程明 |
| 地址 | 210044江蘇省南京市江北新區(qū)智達(dá)路6號(hào)智城園區(qū)4號(hào)樓5樓東側(cè) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 1.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱：檢測(cè)設(shè)備（集成電路板表面缺陷檢測(cè)）。2.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品用于集成電路板表面缺陷檢測(cè)。3.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn)：在于形狀。4.最能表明設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片：設(shè)計(jì)1立體圖。5.指定設(shè)計(jì)1為基本設(shè)計(jì)。 |
