一種地質勘察用巖層取樣裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921367029.8 申請日 -
公開（公告）號 CN210533753U 公開（公告）日 2020-05-15
申請公布號 CN210533753U 申請公布日 2020-05-15
分類號 G01N1/08 分類 測量；測試;
發(fā)明人 傅國耀 申請（專利權）人 舟山市規(guī)劃建筑設計研究院有限公司
代理機構 上海精晟知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 安曼
地址 316000 浙江省舟山市定海區(qū)新河北路2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種地質勘察用巖層取樣裝置，包括矩形基座，所述矩形基座上設有升降結構以及取樣結構，所述取樣結構安置于升降結構上；所述升降結構包括：一對支撐架、一對絲杠架、鏈條、承載板以及滾輪；所述一對支撐架安置于矩形基座上壁面左右兩端，所述一對支撐架側壁面開設有位置相對應的第一條形凹槽，本實用新型涉及地質勘察技術領域。地質勘察中，經(jīng)常遇到巖層，由于巖層較大較厚，并且?guī)r石成具有較多元素，并且具有不同的巖層，并且?guī)r層較大，無法整體取出，所以需要進行取樣，傳統(tǒng)的地質勘察取樣時，通常采用人工手動操作，并且在取樣時，需要人工支撐，取樣費時費力，鑒于此，針對上述問題進行研究，設計本裝置。