一種地質(zhì)勘察用巖層取樣裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921367029.8 申請日 -
公開（公告）號 CN210533753U 公開（公告）日 2020-05-15
申請公布號 CN210533753U 申請公布日 2020-05-15
分類號 G01N1/08 分類 測量；測試;
發(fā)明人 傅國耀 申請（專利權(quán)）人 舟山市規(guī)劃建筑設(shè)計研究院有限公司
代理機構(gòu) 上海精晟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 安曼
地址 316000 浙江省舟山市定海區(qū)新河北路2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種地質(zhì)勘察用巖層取樣裝置，包括矩形基座，所述矩形基座上設(shè)有升降結(jié)構(gòu)以及取樣結(jié)構(gòu)，所述取樣結(jié)構(gòu)安置于升降結(jié)構(gòu)上；所述升降結(jié)構(gòu)包括：一對支撐架、一對絲杠架、鏈條、承載板以及滾輪；所述一對支撐架安置于矩形基座上壁面左右兩端，所述一對支撐架側(cè)壁面開設(shè)有位置相對應(yīng)的第一條形凹槽，本實用新型涉及地質(zhì)勘察技術(shù)領(lǐng)域。地質(zhì)勘察中，經(jīng)常遇到巖層，由于巖層較大較厚，并且?guī)r石成具有較多元素，并且具有不同的巖層，并且?guī)r層較大，無法整體取出，所以需要進行取樣，傳統(tǒng)的地質(zhì)勘察取樣時，通常采用人工手動操作，并且在取樣時，需要人工支撐，取樣費時費力，鑒于此，針對上述問題進行研究，設(shè)計本裝置。