一種片狀物料的上料檢測裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201921238605.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN210775250U | 公開(公告)日 | 2020-06-16 |
申請公布號 | CN210775250U | 申請公布日 | 2020-06-16 |
分類號 | G01N21/88(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 陳禮誠;嚴(yán)靜波;王勇;曾兵兵;任濤濤;程巖;徐瓊;吳群策;廖延?xùn)| | 申請(專利權(quán))人 | 安徽利珀科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 合肥天明專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 安徽利珀科技有限公司 |
地址 | 230012安徽省合肥市新站區(qū)當(dāng)涂北路530號安徽省泰源工程機(jī)械有限責(zé)任公司5樓506、507室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 實(shí)用新型公開了一種片狀物料的上料檢測裝置,包括機(jī)架、上料裝置和AOI檢測裝置,上料裝置、AOI檢測裝置依次均固定于機(jī)架上;所述上料裝置包括輸送裝置、取料裝置和送料裝置,取料裝置吸取輸送裝置供給的物料、并輸送到送料裝置中,輸送裝置固定于機(jī)架的相對兩側(cè)面上,機(jī)架上還設(shè)置有調(diào)整兩輸送裝置之間距離的推動氣缸,所述輸送裝置包括上料平臺和用于推動上料平臺上下運(yùn)動的電機(jī)組件;所述AOI檢測裝置包括對物料的矢印缺陷進(jìn)行圖像獲取的第一檢測組件和用于對物料表面缺陷進(jìn)行圖像獲取的第二檢測組件;實(shí)現(xiàn)了物料的機(jī)械化循環(huán)上料,提高了物料的檢測質(zhì)量和上料效率。?? |
