復(fù)雜場景中的口罩檢測模型訓(xùn)練及檢測方法、介質(zhì)及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010255376.2 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN111461028A 公開(公告)日 2020-07-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN111461028A 申請(qǐng)公布日 2020-07-28
分類號(hào) G06K9/00(2006.01)I;G06K9/62(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 吳曉暉;盧陽;王書平 申請(qǐng)(專利權(quán))人 杭州視在科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州信義達(dá)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 杭州視在科技有限公司
地址 310000浙江省杭州市西湖區(qū)文一西路522號(hào)3幢2單元401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 復(fù)雜場景中的口罩檢測模型訓(xùn)練及檢測方法、介質(zhì)及裝置,涉及圖片識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域;口罩檢測模型訓(xùn)練方法,包括以下步驟:S1、采集數(shù)據(jù):數(shù)據(jù)由包括近景數(shù)據(jù)以及遠(yuǎn)景數(shù)據(jù),整合后形成數(shù)據(jù)集;S2、對(duì)遠(yuǎn)景數(shù)據(jù)中目標(biāo)進(jìn)行優(yōu)化:優(yōu)化的方法為對(duì)遠(yuǎn)景數(shù)據(jù)內(nèi)目標(biāo)框進(jìn)行聚類,得到更高擬合度的先驗(yàn)框;S3、采用深度學(xué)習(xí)模型對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練。與現(xiàn)有技術(shù)相比,對(duì)遠(yuǎn)景和小目標(biāo)檢測進(jìn)行了優(yōu)化,有效的改善了現(xiàn)有技術(shù)對(duì)遠(yuǎn)景和小目標(biāo)檢測效果不佳的問題,該方法魯棒性好、能夠適應(yīng)遠(yuǎn)景、近景,能夠快速準(zhǔn)確地檢測人員是否佩戴口罩。??