一種固態(tài)硬盤的高精密測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110957239.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113405755A 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN113405755A 申請公布日 2021-09-17
分類號 G01M7/02（2006.01）I;G01N17/00（2006.01）I;G11C29/56（2006.01）I;G11C29/50（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉現(xiàn)亭;張喆 申請（專利權(quán)）人 深圳泰思特半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) 深圳市嘉宏博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 孫強
地址 518000廣東省深圳市坪山區(qū)龍?zhí)锝值捞m竹路以北錦盛四路2號珈偉工業(yè)廠區(qū)廠房A401—414
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種固態(tài)硬盤的高精密測試系統(tǒng)，包括操作臺，所述操作臺頂部固定安裝有測試箱，所述測試箱頂部固定安裝有溫度測試機構(gòu)，所述測試箱左側(cè)固定安裝有濕度測試機構(gòu)，所述測試箱內(nèi)底部固定安裝有抗震測試機構(gòu)，所述抗震測試機構(gòu)的頂部固定安裝有定位工裝，所述定位工裝的內(nèi)部夾取有固態(tài)硬盤本體，所述測試箱的內(nèi)部右側(cè)上端固定安裝有導(dǎo)電機構(gòu)，所述導(dǎo)電機構(gòu)下端端部與固態(tài)硬盤本體電性連接；本設(shè)備通過設(shè)置溫度測試機構(gòu)、抗震測試機構(gòu)和濕度測試機構(gòu)，可較為全面精確的對固態(tài)硬盤進行測試，同時設(shè)置安裝機構(gòu)，使得本設(shè)備安裝與拆卸均較為方便，進而使得本裝置實用性強，應(yīng)用前景較為廣泛，值得推廣使用。