高精密內存測試設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110797886.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113257335A 公開（公告）日 2021-08-13
申請公布號 CN113257335A 申請公布日 2021-08-13
分類號 G11C29/56 分類 信息存儲;
發(fā)明人 田景均;劉坤 申請（專利權）人 深圳泰思特半導體有限公司
代理機構 深圳市嘉宏博知識產權代理事務所 代理人 孫強
地址 518000 廣東省深圳市坪山區(qū)龍?zhí)锝值捞m竹路以北錦盛四路2號珈偉工業(yè)廠區(qū)廠房A401—414
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種高精密內存測試設備，本發(fā)明能夠完成對高精密內存批量化、高效率的測量，本發(fā)明的設備包括夾緊測試臺以及旋轉定位器，該夾緊測試臺包括底臺、固定測試針板以及活動測試針板，在該固定測試針板與該活動測試針板之間形成一測試腔，該旋轉定位器包括轉軸、轉動臂以及推板，該測試腔具有打開狀態(tài)以及夾緊測試狀態(tài)，當該測試腔處于打開狀態(tài)的時候，該活動測試針板橫移，該測試腔的橫向寬度增大，此刻，能夠完成裝料或者取料的動作，當該測試腔處于夾緊測試狀態(tài)的時候，該旋轉定位器轉動頂推該活動測試針板，該測試腔的橫向寬度縮小，內存條被夾設在該測試腔中，若干該測試針與內存條的接觸引腳接觸，以進行測試的動作。