芯片測試架
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201921746905.8 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN211402438U | 公開（公告）日 | 2020-09-01 |
| 申請公布號 | CN211402438U | 申請公布日 | 2020-09-01 |
| 分類號 | G01R1/04(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 田景均 | 申請（專利權(quán)）人 | 深圳泰思特半導(dǎo)體有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 深圳市恒程創(chuàng)新知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張小容 |
| 地址 | 518000廣東省深圳市坪山區(qū)龍?zhí)锝值捞m竹路以北錦盛四路2號珈偉工業(yè)廠區(qū)廠房A401-414 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型公開一種芯片測試架，其中，芯片測試架包括測試主板、測試座以及主控模塊，測試座用于裝設(shè)待測芯片，主控模塊可拆卸連接于測試主板，且測試座可拆卸連接于所述測試主板，以使所述測試主板、測試座、主控模塊三者之間電連接。通過將主控模塊可拆卸連接于測試主板，使得在需要更換主控模塊時，直接將主控模塊拆卸下來，更換所需要的主控模塊；通過將測試座可拆卸連接于所述測試主板，測試座也能隨時更換，達到了需要更換主控模塊和測試座時，可以直接更換所需的主控模塊和測試座，解決了主控模塊和測試座出現(xiàn)問題時，需要更換時，浪費測試板的問題。?? |
