一種SERS單元、SERS芯片及SERS檢測(cè)系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201821000377.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN208399384U 公開(kāi)（公告）日 2019-01-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN208399384U 申請(qǐng)公布日 2019-01-18
分類(lèi)號(hào) G01N21/65（2006.01）I; C23C28/00（2006.01）I; C25D11/04（2006.01）I; B82Y40/00（2011.01）I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 郭清華; 孫海龍 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 蘇州英菲尼納米科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州創(chuàng)元專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 汪青;向亞蘭
地址 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)若水路398號(hào)D棟7樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種SERS單元、SERS芯片以及SERS檢測(cè)系統(tǒng)，SERS單元包括基材和多個(gè)納米粒子聚集體，基材包括由第一材料構(gòu)成的第一層、設(shè)置在第一層上方且由第二材料構(gòu)成的第二層，第二層的上表面分布有多個(gè)納米凹陷部；每一個(gè)納米粒子聚集體由多個(gè)納米粒子聚集形成，且每一個(gè)納米粒子聚集體分別被一對(duì)應(yīng)的納米凹陷部所限制。本實(shí)用新型的SERS單元及SERS芯片具有高SERS活性(EF～108)，高均勻性(任意1μm2點(diǎn)誤差<10％)，極佳的穩(wěn)定性(>1年)和批次重現(xiàn)性(誤差<15％)等優(yōu)點(diǎn)，可廣泛應(yīng)用于物質(zhì)的痕量分析或生物分子的檢測(cè)。