一種膜厚測量系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201611099558.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN108151661B | 公開(公告)日 | 2018-06-12 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN108151661B | 申請(qǐng)公布日 | 2018-06-12 |
分類號(hào) | G01B11/06(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 劉玉;陳喆;李承東;操金明;潘占福;劉冬;程小輝;趙晨思 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海ABB工程有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 魏金霞;王艷江 |
地址 | 201319上海浦東新區(qū)康新公路4528號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種膜厚測量系統(tǒng),包括:測量頭,適于測量待測工件上測量點(diǎn)的膜厚,以得到與所述膜厚關(guān)聯(lián)的測量信號(hào);機(jī)械臂,所述測量頭固定于所述機(jī)械臂上;機(jī)器人控制部件,與所述測量頭和機(jī)械臂耦接,適于對(duì)所述測量信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,并根據(jù)數(shù)據(jù)采集結(jié)果控制所述機(jī)械臂的運(yùn)動(dòng);上位機(jī),與所述機(jī)器人控制部件耦接。本發(fā)明方案膜厚測量系統(tǒng)膜厚測量時(shí)間短,系統(tǒng)響應(yīng)速度快,系統(tǒng)成本低,且利于維護(hù)。?? |
