一種基于透射電鏡的樣品表面結(jié)構(gòu)成像方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810352660.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN108593690A 公開(kāi)(公告)日 2018-09-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN108593690A 申請(qǐng)公布日 2018-09-28
分類(lèi)號(hào) G01N23/22;G01N23/2202 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 王巖國(guó) 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 中兆培基(北京)電氣有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京經(jīng)緯專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 代理人 南京騰元軟磁有限公司;江蘇中科啟航新材料工業(yè)研究院有限公司;江蘇非晶電氣有限公司;中兆培基南京新材料技術(shù)研究院有限公司;中兆培基(北京)電氣有限公司
地址 211316 江蘇省南京市高淳經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)紫荊大道以西,秀山路以南
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及材料表面結(jié)構(gòu)表征技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種基于透射電鏡的樣品表面結(jié)構(gòu)成像方法,包括:制備透射電鏡樣品;獲得樣品的低放大倍數(shù)圖像;獲得樣品表面結(jié)構(gòu)的高放大倍數(shù)圖像。該方法通過(guò)調(diào)節(jié)透射電鏡物鏡焦距來(lái)調(diào)控物鏡取景深度和取景位置,利用物鏡取景位置和有限的取景深度來(lái)強(qiáng)化樣品表面結(jié)構(gòu)信息的同時(shí)弱化樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息,進(jìn)而簡(jiǎn)單、快速并準(zhǔn)確的獲得真實(shí)反應(yīng)樣品表面結(jié)構(gòu)的透射電鏡圖像,從而有效評(píng)價(jià)材料或器件的性能。本發(fā)明具有實(shí)施成本低、效率高、可操控性和重復(fù)性強(qiáng)、技術(shù)可靠性高等特點(diǎn),適合于在固體表面研究領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。