具有電壓電流相位校準(zhǔn)功能的IGBT動態(tài)測試裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202022720856.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN214409191U | 公開(公告)日 | 2021-10-15 |
申請公布號 | CN214409191U | 申請公布日 | 2021-10-15 |
分類號 | G01R31/26(2014.01)I;G01R25/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 劉軍;杜俊;肖鵬;李博強 | 申請(專利權(quán))人 | 廣東芯聚能半導(dǎo)體有限公司 |
代理機構(gòu) | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 常柯陽 |
地址 | 511458廣東省廣州市南沙區(qū)南沙街道南林路一巷73號之四103房 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種具有電壓電流相位校準(zhǔn)功能的IGBT動態(tài)測試裝置,包括控制模塊、陪測IGBT、脈沖發(fā)生模塊、純阻性模塊和測量儀器模塊,其中測量儀器用于測量純阻性模塊兩端的電壓以及純阻性模塊與控制模塊之間的電流,調(diào)節(jié)測得的電壓波形和電流波形,顯示經(jīng)過調(diào)節(jié)的電壓波形和電流波形。本實用新型使用雜散參數(shù)較少的純阻性模塊,可以減小硬件部件的雜散參數(shù)的影響,通過在示波器上設(shè)置探頭延遲校準(zhǔn),可以得到校準(zhǔn)后的波性,從而減少因測試裝置自身性能引起的相位差對電流波形和電壓波形測量結(jié)果的干擾,提高測試結(jié)果的精度。本實用新型廣泛應(yīng)用于電子電路技術(shù)領(lǐng)域。 |
