一種灰度測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110542373.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113269841A | 公開(公告)日 | 2021-08-17 |
申請公布號 | CN113269841A | 申請公布日 | 2021-08-17 |
分類號 | G06T7/90(2017.01)I;G06T7/136(2017.01)I;G06T7/60(2017.01)I;G06T5/40(2006.01)I;G06F17/18(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 胡友華 | 申請(專利權(quán))人 | 江西晶浩光學(xué)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 熊永強(qiáng) |
地址 | 330096江西省南昌市南昌高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)天祥北大道1404號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種灰度測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。該方法包括:對測試圖像做灰度化處理,得到目標(biāo)圖像;所述測試圖像為灰階測試卡進(jìn)行灰度測試的圖像;根據(jù)目標(biāo)灰度值對所述目標(biāo)圖像做二值化處理,得到目標(biāo)二值化圖像;所述目標(biāo)灰度值由所述目標(biāo)圖像的灰度信息得到;將所述目標(biāo)二值化圖像的灰階測試卡區(qū)域的最小外接輪廓確定為目標(biāo)輪廓;根據(jù)所述目標(biāo)輪廓的坐標(biāo),確定所述灰階測試卡的目標(biāo)灰階區(qū)域的坐標(biāo)。本方法通過對灰階測試卡的灰階區(qū)域的坐標(biāo)數(shù)據(jù)處理,實現(xiàn)灰階測試卡任意傾斜角度放置的情況下,均可自動識別并確定灰階測試卡的灰階區(qū)域,大大提高了確定灰階測試卡的灰階區(qū)域的準(zhǔn)確率及效率。 |
