一種進(jìn)料緩存的方法以及機(jī)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011630639.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN114689887A 公開(kāi)(公告)日 2022-07-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114689887A 申請(qǐng)公布日 2022-07-01
分類號(hào) G01N35/00(2006.01)I;G06K17/00(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 劉志剛;楊慶賀;肖勇;王東元 申請(qǐng)(專利權(quán))人 深圳市活水床旁診斷儀器有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣東恩典律師事務(wù)所 代理人 -
地址 518071廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道留仙大道眾創(chuàng)產(chǎn)業(yè)園B52棟3樓整層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明采用一種進(jìn)料緩存模組,試劑芯片盒先被第一進(jìn)料模組推入儀器的緩存結(jié)構(gòu)中,進(jìn)料位空閑時(shí)馬上可以放置下一個(gè)試劑芯片盒,無(wú)需等待額外時(shí)間,可將測(cè)試申請(qǐng)的多個(gè)試劑芯片盒連續(xù)放置于進(jìn)料位,自動(dòng)推入儀器的緩存結(jié)構(gòu),對(duì)用戶時(shí)間的占用更少,用戶體驗(yàn)更佳。同時(shí)緩存的芯片盒在等待進(jìn)入溫育槽的時(shí)間里可以提前被加熱到溫育槽靶值溫度附近,一方面可以使試劑芯片盒進(jìn)入溫育槽時(shí),與溫育槽溫差較小,不易引起溫育槽溫度波動(dòng);另一方面可以減少試劑芯片盒在溫育槽的溫育時(shí)間,確保在反應(yīng)開(kāi)始之前達(dá)到反應(yīng)所需溫度。