CIS芯片動(dòng)態(tài)壞點(diǎn)處理方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911323990.1 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN111083401A 公開(公告)日 2020-04-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN111083401A 申請(qǐng)公布日 2020-04-28
分類號(hào) H04N5/367;H04N5/374 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 胡兵;黃昊;姜洪霖 申請(qǐng)(專利權(quán))人 成都費(fèi)恩格爾微電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都蓉創(chuàng)智匯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 譚新民;趙雷
地址 610000 四川省成都市中國(四川)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)成都高新區(qū)天府大道中段1268號(hào)1棟3層22、23號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種CIS芯片動(dòng)態(tài)壞點(diǎn)處理方法及系統(tǒng),該方法包括:以一個(gè)像素點(diǎn)為中心形成矩陣像素陣列,該像素點(diǎn)為G中心;令Gmax為矩陣中的所有像素點(diǎn)的像素中的最大值,Gmin為矩陣中的所有像素點(diǎn)的像素中的最小值,GAvg為矩陣中去除G中心、Gmax和Gmin外剩余點(diǎn)的平均值,Gdif=Gmax?Gmin;判斷G中心是否為壞點(diǎn),若G中心>GAvg+Gdif或G中心Avg+Gdif,則G中心為壞點(diǎn);如G中心為壞點(diǎn),令G中心=G矯正;對(duì)圖像中的其它的每一像素點(diǎn)都重復(fù)上述步驟進(jìn)行處理。本發(fā)明處理速度快、硬件資源消耗小,適合CIS芯片集成。