一種APD組件動態(tài)測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201820954618.5 申請日 -
公開（公告）號 CN208334560U 公開（公告）日 2019-01-04
申請公布號 CN208334560U 申請公布日 2019-01-04
分類號 G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 尹力; 柯尊貴; 孔繁林; 孟偉杰; 趙新華 申請（專利權(quán)）人 四川西物數(shù)碼有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 610061 四川省成都市人民南路四段七號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種APD組件動態(tài)測試裝置，其可以盡量測試多種APD組件的參數(shù)，滿足APD組件的生產(chǎn)測試需求。該APD組件動態(tài)測試裝置包括：可調(diào)光源模塊，用于為雪崩光電二極管APD提供測試光信號；可調(diào)偏壓模塊，與所述APD的輸入端連接，用于向所述APD輸出電壓信號；輸出調(diào)節(jié)模塊，與所述APD的輸出端連接，用于調(diào)節(jié)所述APD的輸出信號的幅度值及調(diào)節(jié)所述APD的增益；測試模塊，與所述APD連接，用于在所述APD輸入的所述測試光信號的參數(shù)的情況下，測試輸出所述APD的第一工作電壓，以及所述APD在所述第一工作電壓的最小可探測功率。