一種電離層閃爍下航空導航性能預測的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201510033744.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN104596544B | 公開(公告)日 | 2017-06-30 |
申請公布號 | CN104596544B | 申請公布日 | 2017-06-30 |
分類號 | G01C25/00;G01S19/23 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 劉楊 | 申請(專利權)人 | 西藏天宇航空數據科技有限責任公司 |
代理機構 | 北京科迪生專利代理有限責任公司 | 代理人 | 楊學明;顧煒 |
地址 | 100088 北京市海淀區(qū)學院路39號唯實大廈1201室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種電離層閃爍下航空導航性能預測的方法,所述方法適用于電離層閃爍下,航空飛行過程中,導航性能由導航誤差、導航完好性和可用性等參數來描述,導航性能預測結果由航空導航終端計算。通過建立電離層閃爍參數與導航接收機的跟蹤環(huán)路之間的映射關系,來分析閃爍環(huán)境下的導航測距誤差和平均失鎖時間,計算導航失鎖頻度。根據航空用戶軌跡和飛行運行需求,對導航精度、自主完好性及可用性進行評估。本方法的優(yōu)勢為可在電離層閃爍時任意場景和設定參數下,提供準確的航空導航性能參數計算及預測結果,以確保航空導航的有效性和安全性,該方法同樣可用于評估各種航空導航終端受電離層閃爍的影響程度,為高性能航空導航終端的研制提供理論和實證依據。 |
