一種電離層閃爍下航空導(dǎo)航性能預(yù)測的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510033744.8 申請日 -
公開（公告）號 CN104596544B 公開（公告）日 2017-06-30
申請公布號 CN104596544B 申請公布日 2017-06-30
分類號 G01C25/00;G01S19/23 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉楊 申請（專利權(quán)）人 西藏天宇航空數(shù)據(jù)科技有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 代理人 楊學(xué)明;顧煒
地址 100088 北京市海淀區(qū)學(xué)院路39號唯實大廈1201室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種電離層閃爍下航空導(dǎo)航性能預(yù)測的方法，所述方法適用于電離層閃爍下，航空飛行過程中，導(dǎo)航性能由導(dǎo)航誤差、導(dǎo)航完好性和可用性等參數(shù)來描述，導(dǎo)航性能預(yù)測結(jié)果由航空導(dǎo)航終端計算。通過建立電離層閃爍參數(shù)與導(dǎo)航接收機的跟蹤環(huán)路之間的映射關(guān)系，來分析閃爍環(huán)境下的導(dǎo)航測距誤差和平均失鎖時間，計算導(dǎo)航失鎖頻度。根據(jù)航空用戶軌跡和飛行運行需求，對導(dǎo)航精度、自主完好性及可用性進行評估。本方法的優(yōu)勢為可在電離層閃爍時任意場景和設(shè)定參數(shù)下，提供準(zhǔn)確的航空導(dǎo)航性能參數(shù)計算及預(yù)測結(jié)果，以確保航空導(dǎo)航的有效性和安全性，該方法同樣可用于評估各種航空導(dǎo)航終端受電離層閃爍的影響程度，為高性能航空導(dǎo)航終端的研制提供理論和實證依據(jù)。