一種精確測(cè)試IC基準(zhǔn)電壓的測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201611151518.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN106501577A | 公開(kāi)（公告）日 | 2017-03-15 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN106501577A | 申請(qǐng)公布日 | 2017-03-15 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R19/00(2006.01)I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 王學(xué)軍;王洪祥;楊振;薛路磊 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 紹興芯谷科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 紹興市越興專(zhuān)利事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 紹興芯谷科技有限公司 |
| 地址 | 312000 浙江省紹興市越城區(qū)天光橋2號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種精確測(cè)試IC基準(zhǔn)電壓的測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，測(cè)試系統(tǒng)包括IC器件、結(jié)構(gòu)對(duì)稱(chēng)的信號(hào)處理電路和V/I測(cè)試源，信號(hào)處理電路的信號(hào)輸入端與IC器件的基準(zhǔn)電壓測(cè)試端子相連，信號(hào)處理電路的信號(hào)輸出端與V/I測(cè)試源相連；其測(cè)試方法為信號(hào)處理電路分別將輸入電壓Vin和穩(wěn)壓管電壓Vz緩沖放大后進(jìn)行比較，并將比較后的信號(hào)通過(guò)減法放大后輸出電壓Vout給V/I測(cè)試源。本發(fā)明可消除測(cè)試設(shè)備地線(xiàn)及空間噪聲的共模干擾，降低測(cè)試系統(tǒng)因測(cè)試誤差造成的影響，獲得更高精度的測(cè)試結(jié)果。 |
