測試夾具（Wafer通用測試夾具）
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202130422323.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN306962707S | 公開（公告）日 | 2021-11-26 |
| 申請公布號 | CN306962707S | 申請公布日 | 2021-11-26 |
| 分類號 | 10-05 （13） | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 丁兆達;高強;歷德義 | 申請（專利權(quán)）人 | 浙江季豐電子科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 上海申新律師事務(wù)所 | 代理人 | 林志豪 |
| 地址 | 201100上海市閔行區(qū)友東路258-288號2幢101室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 1.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：測試夾具（Wafer通用測試夾具）。2.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：用于晶圓的可靠性測試夾具。3.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：在于形狀。4.最能表明設(shè)計要點的圖片或照片：立體圖1。 |
