一種分布輻射度計

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021158792.2 申請日 -
公開（公告）號 CN212779566U 公開（公告）日 2021-03-23
申請公布號 CN212779566U 申請公布日 2021-03-23
分類號 G01J1/02(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;G01J1/00(2006.01)I;G01J3/443(2006.01)I;G01R31/44(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 潘建根;何鋒;黃艷;沈思月 申請（專利權）人 杭州遠方光電信息股份有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 310053浙江省杭州市濱江區(qū)濱康路669號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開一種分布輻射度計，包括待測樣品；第一轉臺，所述第一轉臺用于夾持所述待測樣品在空間發(fā)生平移或旋轉；寬帶光探測單元和光譜輻射測量單元，所述光譜輻射測量單元的受光口離所述待測樣品的距離小于所述寬帶光探測單元離所述待測樣品的距離；所述光譜輻射測量單元可在所述第一轉臺和所述寬帶光探測單元之間切入和切出。本實用新型通過設置可切入切出光譜輻射測量單元，一方面可以縮短光譜輻射測量距離，獲取到更全的光束能量，從而提高光譜測量準確度；另一方面，在進行測試時，可先使用光譜輻射測量單元確定待測樣品波長范圍，從而調(diào)整寬帶光探測單元的校準系數(shù)。通過以上兩方面來實現(xiàn)提高光分布測量準確度的技術效果。??