基于蒙版抑制的精密零組件表面缺陷檢測方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011097319.2 申請日 -
公開（公告）號 CN112505049B 公開（公告）日 2021-08-03
申請公布號 CN112505049B 申請公布日 2021-08-03
分類號 G01N21/88（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉瀟穎;郭漪超;邵漢強 申請（專利權）人 上?；ビX科技有限公司
代理機構 上海段和段律師事務所 代理人 李佳俊;郭國中
地址 201612上海市松江區(qū)新橋鎮(zhèn)新騰路9號2幢3層303室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種基于蒙版抑制的精密零組件表面缺陷檢測方法和系統(tǒng)，包括：采集精密零組件的產(chǎn)品圖片，并在產(chǎn)品圖片上標注缺陷數(shù)據(jù)；根據(jù)產(chǎn)品輪廓，計算圖片上的缺陷檢測區(qū)域并用外接矩形包裹起來；在外接矩形范圍內(nèi)標注蒙版區(qū)域；根據(jù)蒙版區(qū)域與外接矩形區(qū)域的相對位置，計算所有圖片中的蒙版區(qū)域；利用遷移學習法對標注的缺陷數(shù)據(jù)進行深度學習訓練，生成卷積神經(jīng)網(wǎng)絡模型進行產(chǎn)品缺陷類別識別；通過模型集成，分析精密零組件是否存在加工缺陷；統(tǒng)計外接矩形中所有的加工缺陷，去除蒙版區(qū)域內(nèi)的加工缺陷后，將其余加工缺陷作為最終輸出結果。本發(fā)明降低了待檢精密零組件對于環(huán)境變化的敏感度，提高了零組件檢測在復雜環(huán)境下的抗噪能力。