基于蒙版抑制的精密零組件表面缺陷檢測(cè)方法和系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011097319.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112505049A | 公開（公告）日 | 2021-03-16 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112505049A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-16 |
| 分類號(hào) | G06N3/08(2006.01)I;G06K9/62(2006.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G06N3/04(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 劉瀟穎;郭漪超;邵漢強(qiáng) | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上?；ビX科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海段和段律師事務(wù)所 | 代理人 | 李佳俊;郭國中 |
| 地址 | 201612上海市松江區(qū)新橋鎮(zhèn)新騰路9號(hào)2幢3層303室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種基于蒙版抑制的精密零組件表面缺陷檢測(cè)方法和系統(tǒng)，包括：采集精密零組件的產(chǎn)品圖片，并在產(chǎn)品圖片上標(biāo)注缺陷數(shù)據(jù)；根據(jù)產(chǎn)品輪廓，計(jì)算圖片上的缺陷檢測(cè)區(qū)域并用外接矩形包裹起來；在外接矩形范圍內(nèi)標(biāo)注蒙版區(qū)域；根據(jù)蒙版區(qū)域與外接矩形區(qū)域的相對(duì)位置，計(jì)算所有圖片中的蒙版區(qū)域；利用遷移學(xué)習(xí)法對(duì)標(biāo)注的缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行深度學(xué)習(xí)訓(xùn)練，生成卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行產(chǎn)品缺陷類別識(shí)別；通過模型集成，分析精密零組件是否存在加工缺陷；統(tǒng)計(jì)外接矩形中所有的加工缺陷，去除蒙版區(qū)域內(nèi)的加工缺陷后，將其余加工缺陷作為最終輸出結(jié)果。本發(fā)明降低了待檢精密零組件對(duì)于環(huán)境變化的敏感度，提高了零組件檢測(cè)在復(fù)雜環(huán)境下的抗噪能力。?? |
