一種非晶合金環(huán)形試樣磁性能測量樣品臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202020023018.4 申請日 -
公開（公告）號 CN212460013U 公開（公告）日 2021-02-02
申請公布號 CN212460013U 申請公布日 2021-02-02
分類號 G01R33/12(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 董威威;王書光;杜天星;胡柳亮;虞璐;張琴;程笑飛 申請（專利權(quán)）人 浙江兆晶電氣科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都明濤智創(chuàng)專利代理有限公司 代理人 丁國勇
地址 315000浙江省寧波市慈溪市新興產(chǎn)業(yè)集群區(qū)宗漢街道新興大道88號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及非晶合金的磁性能測量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種非晶合金環(huán)形試樣磁性能測量樣品臺，包括平臺底座，所述平臺底座上設(shè)置有供待測試樣品滑移的傳輸槽，所述傳輸槽的一端設(shè)置有升降裝置，所述升降裝置上設(shè)置有升降桿，所述升降桿上固定連接有航空插頭，所述平臺底座靠近所述升降裝置的一端設(shè)置有探測待測樣品的紅外線探頭，所述平臺底座靠近所述升降裝置的一端固定連接有固定支撐架，所述固定支撐架遠(yuǎn)離所述平臺底座的一端固定連接有航空插座，所述航空插座對應(yīng)所述航空插頭設(shè)置，所述航空插頭和所述航空插座內(nèi)均設(shè)置有測量磁性能的線圈，上述測量工作使用機(jī)器自動(dòng)對樣品測量，可以有效提高測量效率。??