一種鑄造類(lèi)單晶用籽晶的重復(fù)利用方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010357713.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113564689A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-10-29 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113564689A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-29 |
分類(lèi)號(hào) | C30B11/00(2006.01)I;C30B11/14(2006.01)I;C30B29/06(2006.01)I | 分類(lèi) | 晶體生長(zhǎng)〔3〕; |
發(fā)明人 | 何亮;何新根;雷琦;毛偉;徐云飛;周成;羅鴻志;程小娟;鄒貴付;甘勝泉;陳仙輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 江西賽維LDK太陽(yáng)能高科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 熊永強(qiáng) |
地址 | 338000江西省新余市高新經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)賽維工業(yè)園專利辦公室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種鑄造類(lèi)單晶用籽晶的重復(fù)利用方法,包括:(1)將類(lèi)單晶硅錠的開(kāi)方尺寸相同的單晶硅籽晶拼接鋪設(shè)在坩堝底部,形成籽晶層;并利用該籽晶層制得類(lèi)單晶硅錠;(2)將類(lèi)單晶硅錠的底面朝上,將底面上的籽晶拼接縫用縫隙標(biāo)記線標(biāo)出,并使其延伸至類(lèi)單晶硅錠的四個(gè)側(cè)面;對(duì)類(lèi)單晶硅錠開(kāi)方得到多個(gè)第一硅塊,且在開(kāi)方前使開(kāi)方鋼線與籽晶拼接縫對(duì)齊,將第一硅塊對(duì)應(yīng)坩堝底部和開(kāi)口的兩個(gè)端面打磨平整后,再切割掉其上的籽晶區(qū)域,得到回收后的多塊單晶硅籽晶,并標(biāo)記每塊的類(lèi)型;(3)將步驟(2)得到的籽晶按步驟(1)的方法進(jìn)行再利用。該方法可實(shí)現(xiàn)籽晶的多次高質(zhì)量重復(fù)利用,降低了鑄造類(lèi)單晶的籽晶成本。 |
