物體表面數(shù)據(jù)偵測(cè)方法、系統(tǒng)、電子裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110170149.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112802002B 公開（公告）日 2021-11-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN112802002B 申請(qǐng)公布日 2021-11-16
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/70（2017.01）I;G06T7/80（2017.01）I;G06F21/73（2013.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 王江峰;周強(qiáng) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州思銳迪科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州華進(jìn)聯(lián)浙知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 龍偉
地址 311100浙江省杭州市余杭區(qū)五常街道文一西路998號(hào)12幢1單元501室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)涉及一種物體表面數(shù)據(jù)偵測(cè)方法、系統(tǒng)、電子裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)，其中，該物體表面數(shù)據(jù)偵測(cè)方法，應(yīng)用于包括偵測(cè)輔助設(shè)備和掃描設(shè)備的三維掃描系統(tǒng)中，包括：獲取針對(duì)該偵測(cè)輔助設(shè)備建立的統(tǒng)一坐標(biāo)系；其中，該偵測(cè)輔助設(shè)備為至少兩個(gè)；分別獲取該掃描設(shè)備掃描物體表面的第一掃描數(shù)據(jù)，以及該偵測(cè)輔助設(shè)備跟蹤該掃描設(shè)備的跟蹤結(jié)果；綜合計(jì)算該跟蹤結(jié)果、該第一掃描數(shù)據(jù)以及該統(tǒng)一坐標(biāo)系，得到物體表面數(shù)據(jù)偵測(cè)結(jié)果。通過本申請(qǐng)，提高了偵測(cè)物體表面的效率，解決了物體表面數(shù)據(jù)偵測(cè)的準(zhǔn)確性低的問題，實(shí)現(xiàn)了高效率高精度的物體表面數(shù)據(jù)偵測(cè)。