儀器電控設(shè)備加速退化試驗(yàn)方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711366755.3 申請日 -
公開（公告）號 CN108399271A 公開（公告）日 2021-07-06
申請公布號 CN108399271A 申請公布日 2021-07-06
分類號 G06F17/50 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 高軍;唐翔;葉濤;盧家鋒;文武 申請（專利權(quán)）人 廣東科鑒檢測工程技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 劉艷麗
地址 510663 廣東省廣州市廣州高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)城玉樹工業(yè)園敬業(yè)三街2號J棟103房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種儀器電控設(shè)備加速退化試驗(yàn)方法，首先根據(jù)儀器電控設(shè)備試驗(yàn)樣品的原始性能參數(shù)對儀器電控設(shè)備試驗(yàn)樣品的性能參數(shù)保質(zhì)期進(jìn)行預(yù)測，然后合理地設(shè)置加速退化試驗(yàn)條件，在進(jìn)行加速退化試驗(yàn)置換，再對試驗(yàn)所得的失效時間數(shù)據(jù)進(jìn)行可靠性分析，確定滿足可靠性條件的失效時間數(shù)據(jù)作為試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)數(shù)據(jù)，能夠有效提高加速退化試驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性。