一種元器件的壽命評價方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210058127.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114444387A 公開（公告）日 2022-05-06
申請公布號 CN114444387A 申請公布日 2022-05-06
分類號 G06F30/27（2020.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06N20/00（2019.01）I;G06F119/02（2020.01）N 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 張增元;方子敏;高軍;徐偉 申請（專利權(quán)）人 廣東科鑒檢測工程技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中山市華朋弘遠(yuǎn)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 修瑞杰
地址 510000廣東省廣州市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)城玉樹工業(yè)園敬業(yè)三街2號J棟103房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種元器件的壽命評價方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)。所述方法包括：所述方法包括：獲取到元器件的參數(shù)；根據(jù)所述參數(shù)進(jìn)行分類，得到不同類別的參數(shù)；針對不同類別的參數(shù)進(jìn)行分析，得到不同權(quán)重；根據(jù)所述參數(shù)及權(quán)重基于效用函數(shù)建立評估模型，得到元器件的能力值。采用本方法能夠有效地發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有的元器件的不足，提高元器件的壽命評價能力。