訓(xùn)練缺陷分級(jí)檢測(cè)模型的方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110420016.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113205176A 公開(kāi)（公告）日 2021-08-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN113205176A 申請(qǐng)公布日 2021-08-03
分類號(hào) G06N3/04;G06N3/08;G06K9/62 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 高航;杜松 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 重慶創(chuàng)通聯(lián)達(dá)智能技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 彭瓊
地址 401120 重慶市渝北區(qū)仙桃數(shù)據(jù)谷中路99號(hào)4幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種訓(xùn)練缺陷分級(jí)檢測(cè)模型的方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。該方法包括：獲取樣本圖像；將樣本圖像輸入預(yù)設(shè)的缺陷分級(jí)檢測(cè)模型；利用缺陷分級(jí)檢測(cè)模型中的分類分支網(wǎng)絡(luò)和分級(jí)分支網(wǎng)絡(luò)對(duì)樣本圖像進(jìn)行缺陷分級(jí)檢測(cè)，得到樣本圖像中缺陷的類別、位置和級(jí)別的預(yù)測(cè)值；利用缺陷分級(jí)檢測(cè)模型中的聚類分支網(wǎng)絡(luò)對(duì)樣本圖像進(jìn)行處理得到樣本圖像中缺陷級(jí)別的偽標(biāo)簽，并將為標(biāo)簽作為樣本圖像中缺陷級(jí)別的真值；根據(jù)缺陷類別、位置、級(jí)別的預(yù)測(cè)值和真值訓(xùn)練預(yù)設(shè)的缺陷分級(jí)檢測(cè)模型，得到目標(biāo)缺陷分級(jí)檢測(cè)模型。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例可以獲得能夠進(jìn)行缺陷級(jí)別檢測(cè)的模型，且訓(xùn)練過(guò)程中無(wú)需進(jìn)行缺陷級(jí)別的標(biāo)注。