一種探針檢測工裝的集成測試裝置及其工作方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110917361.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113514677A | 公開(公告)日 | 2021-10-19 |
申請公布號 | CN113514677A | 申請公布日 | 2021-10-19 |
分類號 | G01R1/067(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 裴悠松;樸文杰 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州奧金斯電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 連云港聯(lián)創(chuàng)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 劉剛 |
地址 | 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)唯華路5號君風生活廣場8幢15005室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種探針檢測工裝的集成測試裝置及其工作方法,包括檢測機構(gòu)和主控終端,所述檢測機構(gòu)包括機械部分疲勞檢測組件和探針性能測試組件;機械部分疲勞測試組件,包括工裝安裝座和配合的往復(fù)加壓機構(gòu),所述往復(fù)加壓機構(gòu)包括架設(shè)在工裝安裝座上的施壓工件和連接在施壓工件上的數(shù)控往復(fù)驅(qū)動裝置;探針性能測試組件,包括探針電性能測試組件,所述探針電性能測試組件包括工裝夾具和架設(shè)在工裝夾具上的電性能測試模塊,所述電性能測試模塊包括架設(shè)在工裝夾具上方的數(shù)控升降抵觸探針以及與升降抵觸探針配合的導(dǎo)通回路,本發(fā)明的優(yōu)點在于檢測設(shè)備小型化,檢測流程集成化,有效提升了檢測效率,降低了檢測成本。 |
