嵌入式芯片測試插座及其加工方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410431753.8 申請日 -
公開（公告）號 CN104198772B 公開（公告）日 2017-11-21
申請公布號 CN104198772B 申請公布日 2017-11-21
分類號 G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張龍;劉德先 申請（專利權(quán)）人 安拓銳高新測試技術(shù)（蘇州）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京科億知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 安拓銳高新測試技術(shù)（蘇州）有限公司
地址 215021 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)蘇虹中路255號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種嵌入式芯片測試插座，包括探針保持板和金屬外框，金屬外框上陣列設(shè)置有多個安裝孔，安裝孔內(nèi)安裝有嵌入式芯片定位板，嵌入式芯片定位板的四周邊上設(shè)置有臺階，安裝孔在靠近上表面一側(cè)設(shè)置有抵觸所述臺階的凸臺，嵌入式芯片定位板上設(shè)置有陣列分布的定位孔，探針保持板上設(shè)置有與定位孔對應(yīng)的保持孔，定位孔和保持孔配合固定有測試探針，嵌入式芯片定位板采用復(fù)合材料，金屬外框達(dá)到增強(qiáng)測試插座強(qiáng)度的目的，同時又保證了插座的電氣性能；還能在一定程度上杜絕測試過程中晶粒間的電磁干擾；金屬外框的變形量要小于傳統(tǒng)測試插座，當(dāng)測試探針數(shù)量大于1500根時，測試插座表面變形量仍然能滿足不大于0.05MM的要求。